X射線熒光光譜儀原理：

　　由于X射線的能量較高，原子的內(nèi)層電子吸收X射線的能量后會(huì)激發(fā)成為自由電子。然后，外層的電子會(huì)填補(bǔ)內(nèi)層電子的空位，這就是電子遷躍，電子躍遷的同時(shí)會(huì)放射X射線熒光。電子躍遷的能量等于兩電子能級(jí)之間的能量差，因此，X射線熒光的能量或波長(zhǎng)是具有特征性的，與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。只要測(cè)出熒光X射線的波長(zhǎng)，就可以知道元素的種類。此外，熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此可以進(jìn)行元素的定量分析。
 

　　X射線熒光光譜儀使用中的注意事項(xiàng)：

　　1、X射線熒光光譜儀 從根本上來(lái)說(shuō)是一種相對(duì)測(cè)量?jī)x器，因此在使用過程中，需要定期對(duì)儀器進(jìn)行標(biāo)定和校準(zhǔn)。

　　2、被測(cè)量樣品的處理與測(cè)量精度的關(guān)系：

　　從X射線熒光分析理論上說(shuō)，對(duì)被測(cè)量樣品進(jìn)行必要的處理是必須的；一般來(lái)說(shuō)，樣品處理的越好，則測(cè)量精度就會(huì)越高，測(cè)量結(jié)果越可靠。在實(shí)際使用過程中，我們應(yīng)該盡量對(duì)被測(cè)量樣品進(jìn)行必要的物理處理。

　　在測(cè)量不規(guī)則的樣品時(shí)，雖然從X射線熒光分析方法上可以對(duì)測(cè)量進(jìn)行技術(shù)上的校正，從而滿足實(shí)際測(cè)量的需要；但這樣做所付出的代價(jià)是犧牲測(cè)量精度和測(cè)量數(shù)據(jù)的可靠性。

　　3、為保證有害元素含量的控制效果，X射線熒光光譜儀 的測(cè)量數(shù)據(jù)應(yīng)與其他的測(cè)量手段結(jié)合起來(lái)使用；X射線熒光光譜儀 更適合生產(chǎn)過程的監(jiān)控，甚至可以說(shuō)：在生產(chǎn)過程中對(duì)有害元素含量的監(jiān)控，X射線熒光分析方法是目前可行的分析手段；而有害元素含量的終裁定，則不應(yīng)該僅僅依靠單一的測(cè)量手段。